光谱分析仪AQ6370D
光谱分析仪AQ6370D
具有光学性能，高速测量和功能，从研发到制造均可广泛使用。它配备了新功能，例如数据记录和扩展标记功能。
- 波长范围：600至1700 nm
- 波长精度：±0.01 nm
- 波长分辨率：0.02 nm
- 动态范围：典型值78dB。
- 电平范围：+20至-90dBm
- 在0.2秒内高速测量100 nm波长宽度
- 适用于单模到多模光纤
进一步提高光学性能
两种型号，标准型和高性能
除了具有高测量性能的标准型号外，我们还有一系列高性能型号，可实现更高的波长精度和动态范围。
的波长分辨率0.02nm
配备了紧凑而高性能的单色仪。由于其高分辨率，甚至可以分离并精确测量接近的信号。
波长精度高±0.01 nm
- 高性能型号：±0.01 nm（C波段）
- 标准型号：±0.02 nm（C + L波段）
波长范围 | 标准（-12） | 高性能（-22） |
1520至1580 nm | ±0.02纳米 | ±0.01纳米 |
宽动态范围，典型值为78dB。
降低了峰值波长附近的杂散光，以实现高动态范围。
标准（-12） | 高性能（-22） | |
峰值波长±1.0 nm | 73分贝 | 73 dB（典型值78 dB） |
*波长分辨率为0.05 nm时
动态范围示例
峰值波长±1.0 nm，分辨率设置为0.05 nm，高动态模式：ON，高性能型号
实现更锐利的滤镜边缘
在高性能模型中，±0.2 nm峰值波长内的光谱形状变得更加清晰，并且动态范围得到了改善。
标准（-12） | 高性能（-22） | |
峰值波长±0.2 nm | 55分贝 | 58 dB（典型60 dB） |
*波长分辨率0.02 nm
近峰频谱示例
杂散光抑制比80dB典型值。
不使用高动态模式时新定义的杂散光抑制能力。高杂散光抑制比有助于缩短测量时间。
标准（-12） | 高性能（-22） |
73分贝 | 76dB（典型值80dB） |
*波长分辨率为0.1 nm时
杂散光抑制比示例
高动态模式：OFF，分辨率设置为0.1 nm，高性能型号
宽电平范围+ 20dBm〜-90dBm
它可以在短时间内准确测量从高功率光信号（例如用于光放大器和拉曼放大器的泵浦激光器）到微弱的光信号。可以根据测量应用和测量速度等条件从7个级别中适当设置测量灵敏度。
从1000nm到1300nm的电平灵敏度提高到-85dBm
平滑功能
具有减少叠加在测量频谱上的噪声分量的平滑功能。
- 高动态模式
减少了单色器中强光信号引起的杂散光的影响，从而实现了更高的动态范围。
自由空间结构光输入
- 支持单模和多模光纤。即使使用多模光纤，插入损耗也很小，并且可以抑制由于信号电平降低而导致的测量速度降低。
- 光学连接器连接出色的可重复性和稳定的测量。不必担心由于与内部光纤的接触而损坏光纤连接表面。
APC电平校正功能
带有校正使用角型光连接器时的插入损耗的功能。
出色的测量通量
在0.2秒内高速测量100 nm波长宽度
高速频谱测量是通过良好的单色仪技术，高速电路和原始降噪技术实现的。它对于测量陡峭的频谱（例如DWDM信号和微弱的信号）非常有效。
配备高速远程接口（以太网，GP-IB）
高分辨率集体测量宽频带
数据点的数量为50,001，可以在保持高分辨率的同时立即测量更宽的波长范围，并且测量变得更加准确和高效。
出色的可操作性
迹线缩放（波形放大/缩小功能）
- 通过单击并拖动鼠标，任意设置测量波形的波长轴的显示条件（显示波长范围，中心波长等）。
- 立即扩大您想要查看的范围，并使用鼠标自由移动显示位置
鼠标和键盘操作
- 继承直观的面板按键布局和菜单结构
- 使用USB鼠标更容易操作
- 可以使用USB键盘输入标签和文件名
简便的测量数据管理
USB存储
兼容大容量USB存储器和硬盘。
512MB或更多内部存储器
可存储20,000多个测量数据。
配有批量保存/回放功能的所有迹线
可以将所有轨迹保存并在一个文件中播放。
